22 Kasım 2017 Çarşamba

XRD

358 defa okundu

X-ışını kristalografisibir kristalin atomik ve moleküler yapısını incelemek için kullanılan ve kristalleşmiş atomların bir X-ışını demetindeki ışınların kristale özel çeşitli yönlerde kırınımı olayına dayanan, bir yöntemdir.

Yukarıda resmi bulunan cihazda toz, ince film, bulk, stres ve sıcaklığa bağlı (0-1400 oC) ölçümler yapılabilmektedir.

DÖKÜMANLAR

BAŞVURU